Новости

03.03
...

Сверхвысокоскоростные ядра АЦП и ЦАП компании Semtech для систем связи следующих поколений

Semtech Corporation объявила о разработке 64 Гсмпл/с ядер АЦП и ЦАП, выполненных по 32 нм технологии SOI (кремний на диэлектрике) компании IBM и предназначенных для интеграции в высокопроизводительные СнК.

Сверхвысокоскоростные ядра АЦП и ЦАП компании Semtech для усовершенствованных систем связиПредставленные АЦП и ЦАП разработаны для использования в таких телекоммуникационных системах, как оптические коммуникации на скоростях до 400 Гбит/с, радарные и РЭБ применения. Сверхвысокоскоростные преобразователи позволяют обеспечить гибкую работу, параллельную многополосную обработку и высокие динамические характеристики для применения в сверхсэмплированных системах, использующих большую мгновенную полосу частот, потребляющих небольшую мощность, и занимающих при этом небольшое пространство. Технология 32 нм SOI являются первой реализованной разработкой в проектируемой линейке функциональных ядер компании Semtech. План развития Semtech включает разработку семейства ядер преобразователей, использующих технологический процесс FinFET 14 нм, который, как ожидается, будет доступен к концу 2015 года.

Ядро АЦП имеет размеры 4 мм², а площадь ядра ЦАП равна 2.2 мм². Ядра содержат синтезатор частот миллиметрового диапазона с широкой перестройкой, который позволяет ядру перестраиваться для изменения частоты сэмплирования в диапазоне 42...68 Гсмпл/с/канал с нормальным среднеквадратичным значением джиттера 45 фс. Полное двухканальное 2x64 Гсмпл/с ядро АЦП производит 128*10^9 аналого-цифровых преобразований в секунду, потребляя при этом мощность 2.1 Вт, в то время как двухканальный ЦАП имеет энергопотребление 1.7 Вт. Ядра достигают значения эффективной разрядности 5.8 бит, для частот до 10 ГГц и значение динамического диапазона без паразитных составляющих более 43 дБ. Кроме того, разработки содержат все необходимые встроенные средства самотестирования и калибровки, что избавляет пользователя от необходимости создавать сложные производственные тесты или алгоритмы калибровки для конкретного алгоритма.